XRF(X-ray Fluorescence)

	모델명	S4 PIONEER(BRUKER)
	특징	시료에 X-선을 조사하여, 미지 시료의 함유 원소를 검출 시료의 변형없이 성분 분석 미지의 성분을 신속히 분석 가능
	적용	철 및 비철재질 분석, 광물 및 원자재의 성분분석 전자부품 및 소재의 성분 분석

AAS(Atomic adsorption spectrometer)

	모델명	AA240FS(Varian)
	특징	시료를 원자화 시켜 발생하는 빛을 흡수하여 원소를 검출 시료중의 미량금속을 정량할 수 있는 분석법 ppm 수준까지 미량 검출
	적용	고순도 금속의 불순물 정량 분석 시료의 미량 분석등 60여가지 원소 정량 분석 가능

ICP(Induction Coupled Plasma)

	모델명	ICPS-1000IV(Shimadzu)
	특징	시료를 플라즈마로 들뜬 상태화시켜 발생하는 복사선을 검출하여 극미량의 원소물질을 분석
	적용	시료중에 포함된 다종원소 성분분석 반도체, 금속, 요업 등의 공업용에 극미량 중금속 검출 합금, 석유화학, 고분자 화학 관련제품의 조성 분석

Titration(적정)

	특징	특정 원소를 적정으로 종말점을 찾아 신속하고, 정확한 정량 분석법 AAS나 ICP와 달리 분석 원소의 고품위 시료 정량 분석
	적용	실버 페이스트, 공정오니의 Ag 분석 폐솔더 등 광재의 Sn 및 Ag 정량 분석 광석 및 이차전비의 코발트 정량 분석 등